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Alt 21.03.2010, 00:22   #1   Druckbare Version zeigen
Freak19 Männlich
Mitglied
Themenersteller
Beiträge: 31
Rastertunnelmikroskopie an Graphit

Hey,
ich muss gerade die Untersuchung von Graphit mit einem Rastertunnelmikroskop auswerten. Dabei ergaben sich mehrere Fragen, die mir Freund google nicht beantworten konnte und die ich auch über die Suche auf chemie-online nicht gefunden habe:
Man misst bei der Rastertunnelmikroskopie von Graphit, Höhenunterschiede zwischen Maxima der Aufenhaltswahrscheinlichkeit und Minima der Aufenthaltswahrscheinlichkeit (Atome mit anderem Atom unter sich bzw. ohne).
Was sagt mir dieser Abstand, welcher Eigenschaft von Graphit entspricht er. Ich fand leider keine Zahl die irgendwie dazu passt. Noch schlimmer wird das Ganze, dadurch, dass dieser Abstand vor der Fouriertransformation und Rücktransformation (wird benutzt um Messfehler herauszurechnen) auch viel zu regelmäßig ist um Zufall zu sein. Welcher Größe könnte er entsprechen?

Vielen Dank schonmal, sorry falls das im Falschen Bereich ist, ich bin Physiker.
Auch mit großartigen Links dazu wäre mir sehr geholfen.
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